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芯片老化试验箱
型号：TYCT
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产品说明、技术参数及配置
产品特点
SATAI/II/III 的测试
ISATA,PCIE的测试片数定制化，例如 96片、156片、216片、316片等等
温度范围可选-70度~ + 180度的测试
具备异常断电测试和老化测试
自动化温控测试
全部采用软件进行智能化控制测试
可个性化定制测试软件
快速升降温控制
支持 PCIE/EMMC/UFS/DRAM/-Flash老化的定制化测试
网络化控制，可以异地控制测试并看测试结果
可开发APP远程控制测试
性能技术指标
SATAI/II/III 的测试
ISATA,PCIE的测试片数定制化，例如 96片、156片、216片、316片等等
温度范围可选-70度~ + 180度的测试
具备异常断电测试和老化测试
自动化温控测试
全部采用软件进行智能化控制测试
可个性化定制测试软件
快速升降温控制
支持 PCIE/EMMC/UFS/DRAM/-Flash老化的定制化测试
网络化控制，可以异地控制测试并看测试结果
可开发APP远程控制测试
性能技术指标
|
型号 |
TYCT-300 |
|
温度控制范围 |
RT + 5℃~ + 150℃可选 |
|
融分布均匀度（空载） |
±2℃ |
|
测试数量 |
300片可选 |
|
电源 |
220VAC ±10%, 50HZ |
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